我國科學家實現基於主動光學强度干涉的合成孔徑成像

5月10日電，從中國科學技術大學獲悉，該校潘建偉、張强、徐飛虎等人聯合美國麻省理工學院、中國科學院西安光學精密機械研究所等組織，首次提出並實驗驗證了主動光學强度干涉科技合成孔徑科技，實現了對1.36公里外毫米級目標的高分辨成像。 實驗系統的成像分辯率較干涉儀中的單臺望遠鏡提升約14倍。 該成果5月9日在國際學術期刊《物理評論快報》發表。